（来源：上观新闻）
由于风👨🚒🆙能电力电子🛏器件需要🇦🇼🛅更高的功率等➰🔬级、更🙇♀️功能测试的常用方法6种严苛的运行环境😐👩💻（极端温🚑度波动、⛰高湿度📐🇬🇺和盐雾），且一旦🇸🇲0️⃣发生故障🇵🇳👨🎨将造成巨大损📵🧁失，因此风能电🇭🇲力电子行🦚业一直对采用新型🥈🏷宽禁带电力电🦙🇴🇲子技术持谨🍮慎态度🇨🇽🌃，而是倾🇨🇰向于选择久经📽👨考验、可靠性📕高的硅技术👴。
“EIC测试🍇🚇与PIC测试🥒功能测试的常用方法6种对比表”——🥀⛴对比测试原理、👃👰对准精度、行🇵🇫🧲业成熟度、主要探🏣⏬针卡厂商四个🇶🇦维度，图源：Tr🇵🇷endForc🐂👡e，下同 四个🍳测试阶🇨🇫段，最关键的🤵是哪一步？ 一🇷🇴🇦🇱颗CP🌰O芯片从晶🔶圆到系统，需🕢🥶要经历四个测🚘📂试阶段： 第🏺一阶段：🚵😧PIC晶圆级测👨🍳试（OWAT）—🌊🌃—直流电学与光🥚学基础测试，🎰包括光🐓📀功率、损耗、暗⛹电流等基本光学🍗🇨🇱参数测量🎬。
