（来源：上观新闻）
“EIC测🇫🇴试与PIC🌀测试对比👎🧺表”——🎍对比测试原理、📫🦐对准精🔹度、行🎨🕺业成熟〰度、主要探针卡厂💠商四个💇♂️维度，图源🔊：TrendF🇩🇴orce，🥅🚲下同 四💉🇲🇴个测试阶段，最关👩🌾键的是💸哪一步？ 一🔃颗CPO芯✍片从晶圆到系统🇻🇳🏋，需要经历四个测🕑🐊试阶段： 第一阶🌱段：PIC🐡晶圆级测试🚇👨👩👧👦（OWAT）—🕙—直流电学与光🇧🇧👩👩👧👦学基础测🏵试，包括光功🇹🇱率、损耗、暗🇷🇼电流等✴基本光学参数测🦕💝量💶。
只要你🥣积累得足🕶够深，👸早晚有一天，🕔🍸时代的🔜潮水会重📿新涨到你这里🎟🥴。它更像科技潮品+🌜家庭助手+💢😼管家的复合🤴体👨🦰。想象这样一个🥘💧场景🥨🃏。全世界只有AS🇨🇻🇱🇮ML能造🐰这种机器💎😷。然而，人工📍智能不太可能是造🕺✡成这波豪📫宅热潮的罪魁👨🔧⏺祸首☪🍑。
