（来源：上观新闻）
遇到系统更新🔢，工程师只需修改🚤某个特📌定子节点🍭😟，彻底避免牵一发🇽🇰而动全身的📄☄架构风险🏺📘。我认为，通用的A🇧🇷GI（通用💹人工智能）🖕👊应该用在家里🦋㊗。
从技术本质看🛍，VLA👨🏭 和世界模型就🕤🌶不是对立关系，⌛应该是互补关系，☪👩👦👦将两者做加🇹🇿🌹法才能同时🔋🚁兼顾理解能力👌、预测能📌🚴♀️力与执行能👩🏫⏱力🦵。比如umi🍟手套是否打☝🍐磨得足够好😣👔，足够通用？采集🐤🛁的数据质👨👨👧👧量如何保证🐤🌯？以及如何清洗🗾🥟和处理这些数据，🔜提升数📙🧞♀️据质量？ 我们⏲一个很大的不同📁是，我们会🥧✳大量使用🇱🇾评估数据🧕，就是机🌱🥪器人自🧧己做测试和探索的💅时候，自己🇬🇱💾在动的数据🍸。
“EIC测试与P🧀🀄IC测试🚌🐀对比表👨🔧🐳”——对比🤺🔀测试原理、对准📠精度、行业成熟🙁度、主要探针卡💲厂商四个维度，🌹图源：Trend🍽Force♾️👩🚒，下同 四个测试📉🧹阶段，最关📮👩👦键的是哪一步？🌎 一颗CPO😕芯片从晶🇧🇿圆到系统，需要经🎪🎮历四个🇧🇮测试阶段： 🎧第一阶段👯：PIC晶圆🎳🔮级测试（OW📧AT）——直流🌟电学与光学基💞🤚础测试，包括光⛳功率、损耗、暗🍎电流等🔙🙍♂️基本光学参数测量🇸🇿♒。
