（来源：上观新闻）
预训练🥫👨👨👧现在还是👨👦有一些卡点🇺🇲的，比如说模🇩🇿🍏型的选🐛择上有很⏪1️⃣多种，市🎑面上有用V🏙🇲🇼LA+VLM的，👔也有世界模型的，🧗♀️🇺🇸还有VLWAM🎱🛍，就是VLM后🍗面再内嵌一🧺个世界模型♿🤲。真正永久被淘汰的👦🇬🇪，只有两类企业：🐓💽积累浅🦢🐾薄、只吃短期时代🇺🇲🔌红利，或是押注😤了注定🍨🤱被替代的过时🇮🇪🛑赛道💔🇹🇫。
。“EIC测🎚🍦试与PIC测试对🕒比表”——对比🏊🙈测试原理、对准精❇🔹度、行业成熟🔎😛度、主要😪🐚探针卡厂👲商四个👨🏭维度，图源：Tr🈁endFo🕝rce，下☦同 四个测试阶段🦵🇹🇹，最关键的是哪一🇪🇬🦘步？ 一颗CPO👹🧿芯片从晶圆到🖌👟系统，需要经历💠四个测试🚚阶段： 🇦🇷第一阶段：🎂PIC晶圆级测试☪（OWAT👚）——直流🤪9️⃣电学与光ℹ学基础测试🌋，包括光功率🚻🚵♀️、损耗、暗电流🌷🚖等基本光学参数测🚳量👨🦲🇩🇲。
