（来源：上观新闻）
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“EI🥨C测试与P◾🇰🇵IC测试对比表✈”——↘对比测试🧘♀️原理、🚅📂书新版好还是旧版好对准精度、行🏋️♀️🅰业成熟度🎓、主要探👩🏭🦄针卡厂商四个维度👀🤭，图源：T🤴ren🍔🇨🇫dForc⚾e，下同 四个测🇬🇮书新版好还是旧版好试阶段，最🌂🤓关键的是哪一步🎌？ 一颗CPO芯🥈片从晶圆🎯💒到系统，需要经历🔧🍼四个测🕔试阶段： 第💰👩💻一阶段：PI🌄💥C晶圆级测试（O🍈WAT）🇬🇭✨——直流电学与光👩🎓学基础测试🎣🍪，包括🤚🚿光功率💇♂️🈵、损耗、❌🔲暗电流等基本光🇨🇷🛎学参数测🏴🕘量🏋️♀️☑。
