（来源：上观新闻）
“EIC测🌉试与PI🍴C测试对比2️⃣表”——对比测👯♂️试原理、对🇦🇫🇲🇪准精度、行🔲🚼业成熟度、主👩🦰要探针卡厂商四💟🐟个维度，图🍽🇮🇲源：Trend🎪Forc🇻🇳e，下✅➗同 四个测试阶段🇻🇺，最关键的是哪🦊一步？ ⛑一颗C🤸♂️PO芯片从晶圆🤭👁到系统🇧🇪，需要经历四🇸🇰个测试🌄阶段： 🔳🍏第一阶☦段：PIC🌞🚙晶圆级测试（OW🇭🇹AT）♓👩⚕️——直流👨❤️👨电学与光学基👵础测试🦊🇨🇬，包括光功率、🗨💗损耗、暗电📰流等基本光学🍽🧸参数测量☝🔝。
据悉，全新的iQ👩👧👧↖OO 16预⁉计将于下半年👯🐊亮相，将有望首🎡批搭载新一代顶级🔱旗舰芯片骁龙8 🌕🆓Elite G🏠en6 Pro❇↩。过去需🙅♂️😜要高价购买🏴🅰或额外申请💸🍔的能力，现在已成🚊了开源社区的🏨🤶默认配置↪。
