（来源：上观新闻）
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“EIC◻🙅测试与PIC测试🏒🎩对比表”——💆♂️对比测试原理、对♓🇧🇼准精度🍲🦚、行业成熟度、主😪🤚要探针♻🛤卡厂商四🐒🥝个维度，图源：T🇵🇳rend⌚🌚Force，下同🇲🇭 四个测试阶段🇮🇸🇳🇫，最关键的是哪🤽♂️一步？ 一颗C🙍♂️PO芯片从晶圆到📂👨❤️💋👨sem是什么检测分析系统，需要经😌历四个测试阶🎛🇾🇪段： 第一🏫👩👩👧阶段：🇹🇴🅿PIC晶📻圆级测试（🚷OWAT）—🇵🇼🛂—直流电学🖥🏺与光学🤜基础测试，🇧🇹包括光功率📽😦、损耗、暗电流等😃基本光学参数🐯测量🎋🇰🇪。
前ASML员👻🍄工、Semi🇦🇼🧫Analysis👩🎤分析师Je💇🇹🇹ff K🧡🕉och对《🥯华尔街日报》➖坦言："你👨👧无法快速或🎓轻松地扩大这种⚾规模—🇹🇬—这是打♻💥造一款价格昂贵🇧🇻、结构复杂、🇬🇺👪供应链也➖十分复杂的工具👹的必然结⏮👣果🐼。在商业化策🇨🇨略上，小鹏确🙎♂️定了「先商业、🇫🇷再工业、💥再家庭」的落地顺💜序🇲🇴😞。
