（来源：上观新闻）
传统E⏹IC测➖🤡试是纯电🐺🥛学测试，而🗿PIC内部包含👩👩👧👧耦合器、🔰调制器、光🃏电探测🔱🥵器、光学滤🔲📃波器、光波导等大🇳🇪量光学🍈组件🥼💊。这一代机器😉人最核心的不🥑🚠同在于它的通用性⏺。
在此基础上🚾，星动纪❄🤥元已完成汽✂🇧🇳车制造、32️⃣C 电子、商业服🛢务等场景探👨👩👧🔁索，与吉利、🇷🇼↩雷诺、海尔、🇺🇲🇰🇮联想、三星等🐀企业建立合🕎🕘作，将物流场景的🇸🇷成功范式🇰🇮🍡快速复制到更🇷🇺🏭多行业👨🔬🇧🇪。打好模💩💻型基础之🔦余，在🔡数据与硬🐰🎙件层面，他也通🏜🙍过UMI、😯外骨骼和第一人称🚥🌿视角三🇧🇮层方案采💩集高质量数据，🌌形成从🇨🇵🐷任务定🥧义到数据、模🇳🇪型、本体的闭🤐环迭代🏩🇦🇶。
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