（来源：上观新闻）
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“EIC测试🐾📪与PIC测🏗试对比表”—👩❤️👩—对比测试原理😡🍍、对准精度、行🌐🏌️♀️业成熟度、主⛅♣要探针卡厂商💟四个维度，图源：🧺🙄Tren🧟♀️dFor🇭🇳🌷ce，下同 四📍个测试阶段👨🎤，最关键的是哪一📆步？ 一颗CPO♈🎠芯片从🚸🌓晶圆到系🇧🇱🤑统，需要经历🚣四个测试🍄阶段： 第🇸🇨一阶段：P🧙♂️IC晶圆级🌽测试（OWAT🐍）——直流电学🚬与光学🇬🇳基础测试，🤾♀️包括光功率⚡、损耗、暗电🕸流等基本光学参数🏩测量🔽🍓。四个阶段中🇱🇾，第一📳阶段PIC🧤晶圆级测试3️⃣最为关键👃。部分底层原始数🇲🇴据甚至不🧕🇳🇱以接口形式😩🆔公开，仅支🐺🚲持通过智能体界☢面访问🤪👩🎓。
