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(来源:上观新闻)
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“EIC😱🇧🇳测试与🚣🥵PIC测试对比表🇯🇵”——对比🇸🇹测试原理、对准🇩🇰精度、行业成🥼🚇熟度、主要探针卡⛸厂商四个维度,图☹源:Tre🍘😃ndFor🥞🃏ce,下同 🇯🇵🧁四个测试阶段®,最关键的是哪🦹♂️一步? 一颗⛵〽CPO芯片从🇨🇮🇾🇹晶圆到系统🥊🧨,需要经历👩✈️📅四个测试阶🚸⭕段: 🕠👠第一阶段🌕🚾:PIC晶Ⓜ🚎圆级测试(OW📙🕛AT)——☠🐍直流电学与光学基🗄🌕础测试🏧👷♀️,包括光功率、💜损耗、暗电流🎐等基本光学参数测🧹😀量📐。