（来源：上观新闻）
“EIC测试🗣与PIC测🌼🌴试对比表🇦🇴‼”——对比🦑🍋测试原理、对准😙✔精度、🕙行业成熟度、主要🕒🇰🇼探针卡厂商四个维🥪度，图源：T🇰🇮rend©🚪Force，🤛🌊下同 四个测试⤴阶段，最关键🧧的是哪一步🐘？ 一☪颗CPO芯片从🧐晶圆到系统，🇨🇨需要经历四个测😊试阶段💄🇸🇴： 第一阶段：🛸🤸♂️PIC晶圆级测🤣试（OWAT）—🇧🇷🇧🇧—直流电🧂🆒学与光⚽学基础测试，🇩🇬包括光功🇰🇭🔀率、损耗❄🥎、暗电🌫🇹🇫流等基本光学参数🇻🇨测量🅾。
还有一个更具体的🇮🇶物理难题🃏：光学探🇮🇲针的精准对准🇹🇹。与库克擅长🈺🍎供应链和🇬🇳扩大服务业🐒👳务不同，特努👩👧🇲🇰斯的技能组😿合集中在打🌲✋造设备本身💆。更多精彩内容，🇪🇬🦞关注钛媒体微♿信号（ID：t🙍♂️👪aim🏹eit🦸♀️i），或者🐅🆚下载钛媒🇷🇪体App🇵🇸🌼。
