（来源：上观新闻）
在百万 to🕉💨ken🐘🖍 上下文场🇺🇳😸景下，Deep🧳📳Seek-V🦇🤘4-P🇨🇳ro 相比👩👦🆕 Dee🏌pSeek-V🀄3.2 ➗仅需 27% 🇧🇾🇦🇽的单 tok🐿en 推理 F🧪LOPs 和 🇦🇸🚩10% 的 KV👩⚕️ 缓存🌔👩❤️💋👩。
202🧭0 年，🐇美国升👩⚖️🤔级对华为的🏌制裁，这成了整个🇹🇳科技行业的分水岭🇹🇦👩，第一次🧔👵如此清🦍🐑晰地表明🌴，技术已经🕙🙉成了大国博弈的核💜心棋子🧂😫。
“EI⏲🤕C测试与👩👧PIC😶测试对比🍁表”——对比🎼测试原🇬🇼理、对准🤩🃏精度、🕋行业成熟🧮度、主要探针🇸🇷🗺卡厂商🇮🇲四个维度，🇭🇲图源：Tren😂⬆dForc🇬🇾🎑e，下同 🕍四个测试阶段，最🇧🇷🇰🇵关键的是哪一🇧🇻👔步？ 一颗👵CPO芯😿片从晶圆到系统🍎👂，需要经历四个🕳测试阶段🤦♀️： 第👗一阶段：🖱PIC晶圆✔级测试（O📕WAT）——直🐚📮流电学与光学📤🇭🇺基础测📣❣试，包括光功率、😵损耗、暗电流等🔙🇫🇲基本光学参数🌠🥡测量🎧。
