（来源：上观新闻）
指令微调版，De🇮🇪epSeek-🐞🥁V4-Pr🇳🇫o 和 De🔲epSeek-V✔🕰4-F⛄📡lash 均支持✝三种推理强🐡👩🎨度模式🇰🇼🏖。他同时也👨👩👧👧⛓承认，这些产🔴🍐品不会像200🇵🇸7年初🏚代iP🦗hone那样具有🦄🏴开创性🛒🇸🇨，但推出的速度和🦖数量都非同寻👨🔬🇱🇹常👩👧👦。人工智能👢🇹🇱正在蓬勃发展📽。但是这⛄种“差”👶♿其实也是“🏘好”，🅾😇会让模🐤🔞型更知道任务的目🔞🇧🇭标是什么🇹🇭。
“EIC测试👝与PIC测试📭🍬对比表”——对💀比测试原理、🛬对准精度、行业🤾♂️成熟度、主🏃♀️要探针🔙🧁卡厂商四🇷🇸个维度，图源🌨🐐：Trend🍰Force，下同🎶✒ 四个测试阶段🧗♀️，最关键的是哪📦👘一步？🏩🙍♂️ 一颗🏄♀️CPO🇹🇯芯片从🍂晶圆到↗🍆系统，需要经历🍈四个测🕤试阶段🥯： 第一😅阶段：PIC🎚晶圆级⚒👖测试（O👩🍳WAT）——直🚏🏘流电学与🕠光学基础测试，包♉括光功📦😱率、损🌔耗、暗电🇮🇪流等基👨🚒🦠本光学参数测量🚊🐬。
