（来源：上观新闻）
Nigh🐲t Jar🇰🇮能够精确定位漏光🌌位置，并测量特🚢🔛定波导段或👛👧光学组件的🚂🇨🇼量化IL值🚱💗，支持晶圆级👨👨👦光损耗映🇧🇧射，帮助研发人👨❤️💋👨员更快速准确😅地识别缺陷，🏄♀️最终提🥕🏮升生产良⛓率🚶♀️。
中方对此坚🚐决反对🔑。“EIC测试与😹PIC测试🏠⚪对比表”🔣——对比测试原理🕴🇱🇸、对准精🐭度、行🇦🇹🉑业成熟度🗓、主要探针卡厂🚘🛍商四个维度，图🆑💢源：Trend🇹🇰Force，下同💣🕣 四个测试阶⛄段，最关🚙🥫键的是哪一步？🦹♀️ 一颗🤾♂️CPO芯片🍡从晶圆🛢到系统，需😡🍐要经历🏈🇨🇦四个测试阶段：😽 第一🥜👩👧👦阶段：PI🧠🦗C晶圆级测试（O🧚♀️WAT）—⚒🇭🇲—直流电🆗🥟学与光学基础测🚕💕试，包括😷光功率、🗡损耗、暗电流等基👕本光学参数👨👨👦👦🥎测量😢😒。
对于普通用户而🏪🌎言，这意味🚢着可以零门槛接触🤞高质量生成；而🇹🇴对于专业创作者，♋📪则意味👩👩👧👧着真正可持续🔨🔤的规模化生产成🔠🍝为可能🧚♂️☦。神态眉眼👎凝重中带着日常🎬😙琐碎市❔井的狡🤝👩🍳黠，嘴角微微下🇹🇩🧢撇，胡须上🖍还沾着糖渍👨⚕️的发光♊颗粒⁉。
