（来源：上观新闻）
“EIC测🤽♂️试与PIC测🧜♀️🇱🇦试对比🙆♂️表”——🏳️🌈对比测试原理🚊、对准精度🚮、行业成熟🇭🇳✝度、主要探🎯针卡厂商四个💜维度，图源➰🤧：TrendF🇹🇲SEO是什么orce，下同 ☕四个测试阶段，最💆关键的⤴是哪一步🦖🦅？ 一颗CP🗒🇵🇷O芯片从晶圆到🚾系统，需要经历🍾🇨🇾四个测试阶段：⚾🇰🇿 第一阶⚙段：PIC💊🇲🇱晶圆级测🇱🇻试（OWAT）💁♂️——直流电🍷学与光学🕎基础测试，包💏🇨🇭括光功率、🌐🏣损耗、暗电流等基👻🦓本光学参数测量🦢🏑。
沐曦股⚔🐧份还联合上海🚵人工智🇮🇩能实验室Ker🏎nelSwif🥌👨👩👦👦t智能算子迁移系👘统，率🚔🌠先完成Dee❌🚄pSeek-🚕↔V4核心🇮🇷🕣算子的Day🦀 0适配📂。这一机🐥😡制在2021👥😀年1月正式🔡实施的👑🚅《外商投🖐🇵🇳资安全🧮审查办法》（以下🌉🙂简称《🐙办法》）中被明🐷💈确规定🌶🎵。
