（来源：上观新闻）
“EIC测试与P👨👩👧👧👅IC测🎃🥖试对比表”——对🏴比测试原🕟理、对准精度、🔭行业成🇬🇷👩👧熟度、主要🧝♂️🙀探针卡厂商四个维🚺😿度，图源：🌠🇧🇱Trend🥂🤫Force，下同🇲🇰 四个测试🐑阶段，最关🔮🥼键的是🐱👔哪一步？ 一颗👩🌾CPO🍨👯芯片从晶圆🧐🥀到系统，需要经历💏四个测试阶段： 🛠🇨🇬第一阶🧗♂️段：PI🍺C晶圆级测试（👩OWAT）——直🇷🇸🌒流电学与光学基础👩💼测试，包🐢括光功率、🇬🇳损耗、暗👆电流等基本📑光学参数测量♓。
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