（来源：上观新闻）
“EIC♉测试与P📝🛋IC测试对比表🅰”——对🥰比测试原🐧理、对准精♣soe是什么岗位度、行业成熟🇮🇳度、主要😚📘探针卡厂📞商四个维度，图源🦚：TrendF👇orc🇱🇹👩🔬e，下同 四个6️⃣🍲测试阶段，最关键👯♂️9️⃣的是哪一步？ 🇲🇩🇫🇯一颗C😢PO芯片从🥼晶圆到系统，需要💮🍾经历四🐉个测试阶段： 🖖第一阶段：PIC🏐🥓晶圆级测试（O🛄WAT）—👼🔑—直流电学与光学🏴✡基础测试，包🔺🥄括光功率、损🤦♂️耗、暗电🕑⏮流等基本光🏋️♀️学参数测量🎆🇿🇲。
这意味着，光🦅👩💻纤阵列必须在🇺🇲距晶圆或芯👉👁片表面保持📟🧸精确间距的同📉🤐时，对耦🛣☀合器角度进行微调🎭，以最大化👘🥭soe是什么岗位光功率➕↔传输，再依🌩次扫描不▫同波长范围♏。王捷向记者解释🇳🇪🌏，这背🦎🤢后对应的🌍💏，是一整套既🎅▶能做到风控，又与👩💻🇨🇳自己的🎊审美、性格🦷偏好相符的长期一🏥致的投资策略，♍👨❤️👨类似二级市😒场的“分批建仓“🍛🛐，每个人都有自己⚛🇳🇵的做法📜。
