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(来源:上观新闻)
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“EIC测试与🇧🇻PIC测试对比🔄🇸🇭表”—🏡🐽—对比测😲试原理、对准🎢精度、行业成熟度💦、主要探针卡厂👨🎨👣商四个维度,图🚦源:Tre💅🌘ndFo📭💶rce,😐下同 四个测试🔬阶段,最🇹🇴🐈关键的是哪一🚩步? 一颗CP🗡💁♂️O芯片从晶圆到🔟系统,需要经历四👠个测试阶段: 🥠第一阶📒段:PIC🇧🇯🔄晶圆级测试👠(OWAT)🖲😣——直流电学与光☝🇼🇫学基础测试,👩✈️🍿包括光功率、损🧖♀️耗、暗电流等基本🧻光学参数🚨测量📟。
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