（来源：上观新闻）
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“EIC测试🇹🇱🤒与PIC📞🇬🇷测试对比表”💂♀️🚣♀️——对比测试原理⚙🇷🇴、对准精🛵度、行业🥪👨🎤成熟度、主🇸🇱要探针👨👨👦👦卡厂商四个⚔🤔维度，🏪✡图源：Tren🏈🥿dForce👨🍳，下同🔤 四个测试阶段，🇺🇸🏩最关键的是哪👥一步？ 一颗CP💥⏏O芯片从🐼晶圆到系统，🎬🛐需要经🐈历四个测试阶段：◼👎 第一阶段：P📆IC晶圆级测试（👵🇬🇮OWA🔰T）——直流电学🐬与光学基础测试🌊，包括🐖光功率、损耗、暗🙈电流等基本🖌光学参数测量📙🈁。
