（来源：上观新闻）
“EIC测🛄日本smc公司官网试与PIC测🍤🇬🇵试对比表💟”——对比📖测试原理、对准精🇵🇼🇲🇺度、行业🛍🥈成熟度、主要👜📋探针卡厂🚒🇪🇬商四个维度3️⃣😌，图源：Tr🐋🏨endFor🇬🇸ce，下同 🇭🇹🏄四个测🚎🦷试阶段，最关键🇸🇽的是哪一🐖步？ 🇧🇿一颗CPO芯片从📝🔊晶圆到系统，需👩👧👧要经历🥽😬四个测试🛩阶段： 第一阶段✏🏃♀️：PIC晶圆级测🌎🇹🇿试（O☁🇵🇱WAT）—🇪🇸🇧🇦—直流电学与光🦞学基础测试，包括🆓🛅光功率、损耗、暗🇰🇷电流等基🇱🇺本光学参数测🈯🤵量🧞♂️日本smc公司官网。
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