（来源：上观新闻）
“EIC测试👨💼与PIC🇦🇹测试对🔸🛎比表”—↖🧛♂️—对比测试原👩🚒🦞理、对准精度👐🌘、行业成熟度、⛹️♀️主要探针卡厂🍴商四个📦🚢域名cname维度，图源：🌵TrendF☕🐧orce，🥀🚌下同 四个🏓🦏测试阶段，最关🇧🇳键的是哪😢⬜一步？ 🧚♀️🐙一颗CPO芯片从🇩🇪晶圆到系统，需要🏟经历四个测🇼🇸🕥试阶段：😤🔷 第一阶段：P❔IC晶圆级测试🎃🇭🇳（OWAT）—🥺⚒—直流电学💸与光学基础⏲测试，包括光功➰🦍率、损耗、🇨🇦暗电流等基本光🇳🇺学参数测量😟。
其他周边配置的🈁话🤪。持续的存储紧😒📞张问题⏫🇱🇧不仅影响着智💝能手机原始设备🇧🇸📨制造商（OEM）🧬🕹和SoC🎹供应商🚕的新产💷🦕品开发，🕗📥也促使其优化👨🔬👮♀️产品组合⏹🌄。推理则完全不同🇾🇪☠。。因为 Y60🛐🛰0 Pr🈶👬o 的竞品们，同🗯♣样很强📞域名cname。
此时用不到👩👩👦👦什么算🇨🇷💫力，显存在疯🤲狂运行🇺🇦。机哥觉得搭👩💻🥪载天玑 8🏴🇸🇦500 的🏴可能性蛮高♿。至此，fi🇪🇭conTEC形🛌🥀成了从晶圆级⚔到芯片级👨❤️💋👨🙍♂️的完整🛑CPO测🥀🇧🇲试产品线🎓🇷🇸。
