（来源：上观新闻）
《科创🇦🇨板日报🐔🇨🇦》4月🔺🧳27日讯🇰🇭🚦（记者 📢👨🔧黄心怡）近日，🇼🇸✔DeepSe🤣🇦🇷ek-V4👭🇸🇹预览版🔡👶本上线并同步开🕺源，包🦶含Deep👩🎨Seek👩👩👧👦-V4-Pr🇮🇲o和Dee🇷🇼🤧pSeek-V🇯🇲🥄4-Fla🚳🇲🇴sh两个模型👇🖊。
“EI🚦😨C测试与◀🇬🇷PIC测试😞▫对比表”🥰——对比测💆♂️试原理🎷、对准精度🥝🥏、行业🦈👅成熟度🏜🇯🇴、主要探针卡🙃🤑厂商四🦈♏个维度，🐛图源：Tre🔺ndF👦orc♐🍘e，下同 四个测👨🦱🐿试阶段，最关💔键的是🇦🇬哪一步？ 一💔颗CPO芯片🍴🐇从晶圆🧕到系统，需要🇿🇦经历四个测🌒试阶段： 第一阶⛓〰段：PIC晶💫圆级测试（⬅🇲🇿OWAT）——🧹😾直流电学与光学基🛳础测试，包括光功🎰率、损😛🏺耗、暗电流等♑🇫🇷基本光学参数🦄测量㊗📩。
