（来源：上观新闻）
“EI🍵🏊C测试与P👩✈️IC测试对比表🧣🤪”——对比测试🎨原理、对准精度😘🇰🇲、行业成熟度🏆、主要探针🤮🏸卡厂商四个🎺🧽维度，图源🇲🇫♦：TrendF🔼orc🍟🇧🇬e，下🇰🇲❤同 四个🐴🎰测试阶段，最关键🧤👔的是哪一步？ 👽一颗CP🔩O芯片从晶圆到系😮统，需要经历四🌌个测试🏴☠️🚜阶段： 第一🐍阶段：PIC晶圆🇹🇬级测试（OWAT🎁）——直流电学与🎶光学基👩🤸♂️础测试，包括光功🐻率、损👺♎耗、暗电流等基本🔻光学参🔔数测量🧽⛰。
孙进则在回🇫🇲🐨答东方甄选抖😒🛃音主账号直播♌😖间在线人数下降问🇱🇹题时表🐨示，公司新增矩🎎阵账号带🧞♂️来一定分流，但🌗🔘整体流量🍗👩💼转化在提升🇬🇫🏀。其中最重要的3💺📖项是： 1，混合🇷🇴🥿注意力架🤙构：一种结合压🗡😍缩稀疏注意力🙈（Compre⏲⛲ssed💰🐩 Sp☄🇲🇹arse👄🥩 At🕍tent🌵ion, CSA↗👮♀️）与重度🇱🇰👩🎤压缩注意力（H📮🔚eavily🇲🇸🍙 Co🇨🇩🔨scm动漫mpress💓ed A🇰🇼ttenti🚿🇨🇬scm动漫on, H🙎♂️CA）🍌🗝的混合注🇰🇵意力机制，🗜🇦🇨显著提升了长上👩🦰下文处理效率7️⃣。
