（来源：上观新闻）
传统EIC测试是🗓🇲🇬纯电学测试🦙，而PIC内🕢部包含耦合器🦀、调制器、光🥛🍀电探测器、🥦🇦🇫光学滤波器、光波🎙导等大量光7️⃣🚮学组件🦶。
陈一心对《科创板🎌🦙日报》🖊🆔记者表🌕👨💻示，推理🧰侧国产算力已经▪比较成熟，训练👩👦👦🔶侧快速追赶0️⃣🥌。更关键的突🌉破在硬👮♀️👞件生态侧🖋🌈。“大家都知道🔫GPU是中🤮⤴国需要的，但🐏也知道做GPU是🇵🇱🧨件非常难的事情🥛⏺。
其核心创新是对准😤🙃容差补🇩🇯偿技术——通过对🌉光学探🤠针输出光束进行🏧特殊整形，🐛即使探针定位存在🏺轻微误差，光信号🔊💒仍能进入P🥇🙄IC耦🦹♀️合器，大幅缩短🍷➕对准时间🌴🛑。红米 N👨👨👧👦ote🇳🇨 17 ⛽Pro📙 Max 说🇷🇴起上一代🍪🉐红米 Not💗e 15 系列🔶🚃。
